Analyzing SEU Effects in SRAM-based FPGAs. - Massimo Violante; M. Ceschia; Matteo Sonza Reorda; Alessandro Paccagnella; Paolo Bernardi; Maurizio Rebaudengo; D. Bortolato; M. Bellato; P. Zambolin; A. Candelori (IOLTS, 2003)

Experimental study of charge generation mechanisms in power MOSFETs due to energetic particle impact, . - Francesco Velardi; Francesco Iannuzzo; Giovanni Busatto; Jeffery Wyss; A. Candelori (Microelectron. Reliab., 2003)

Reliability of Medium Blocking Voltage Power VDMOSFET in Radiation Environment. - Francesco Velardi; Francesco Iannuzzo; Giovanni Busatto; Jeffery Wyss; Annunziata Sanseverino; A. Candelori; Giuseppe Currò; Alessandra Cascio; Ferruccio Frisina (Microelectron. Reliab., 2003)

Evaluating the Effects of SEUs Affecting the Configuration Memory of an SRAM-Based FPGA. - M. Bellato; Paolo Bernardi; D. Bortolato; A. Candelori; M. Ceschia; Alessandro Paccagnella; Maurizio Rebaudengo; Matteo Sonza Reorda; Massimo Violante; P. Zambolin (DATE, 2004)

Heavy Ion Effects on Configuration Logic of Virtex FPGAs. - Monica Alderighi; A. Candelori; Fabio Casini; Sergio D'Angelo; Marcello Mancini; Alessandro Paccagnella; Sandro Pastore; Giacomo R. Sechi (IOLTS, 2005)