Extraction of the active acceptor concentration in (pseudo-) vertical GaN MOSFETs using the body-bias effect. - Raoul Hentschel; Andre Wachowiak; A. Großer; Simon Kotzea; A. Debald; Holger Kalisch; Andrei Vescan; A. Jahn; Stefan Schmult; Thomas Mikolajick (Microelectron. J., 2019)