Impact of gate stack process on conduction and reliability of 0.18 mum PMOSFET. - G. Ghidini; A. Garavaglia; G. Giusto; Andrea Ghetti; R. Bottini; D. Peschiaroli; M. Scaravaggi; F. Cazzaniga; Daniele Ielmini (Microelectron. Reliab., 2003)

Impact of interface and bulk trapped charges on transistor reliability. - G. Ghidini; M. Langenbuch; R. Bottini; D. Brazzelli; Andrea Ghetti; N. Galbiati; G. Giusto; A. Garavaglia (Microelectron. Reliab., 2005)