The radiation sensitivity mapping of ICs using an IR pulsed laser system. - Ali Behcet Alpat; Roberto Battiston; Marco Bizzarri; Diego Caraffini; E. Fiori; A. Papi; Marco Petasecca; A. Pontetti (Microelectron. Reliab., 2003)

X-ray qualification of hydrogenated amorphous silicon sensors on flexible substrate. - Mauro Menichelli; Luca Antognini; Aishah Bashiri; Marco Bizzarri; Lucio Calcagnile; M. Caprai; Anna Paola Caricato; Roberto Catalano; Giuseppe Antonio Pablo Cirrone; Tommaso Croci; Giacomo Cuttone; Sylvain Dunand; et al. (IWASI, 2023)