Soft error rate comparison of 6T and 8T SRAM ICs using mono-energetic proton and neutron irradiation sources. - Daniel Malagón; Sebastià A. Bota; Gabriel Torrens; Xavier Gili; Javier Praena; B. Fernández; Miguel Macías; José Manuel Quesada 001; Carlos Guerrero Sanchez; María del Carmen Jiménez-Ramos; Javier García López; José Luis Merino; et al. (Microelectron. Reliab., 2017)