Reliability of 8Mbit Embedded-STT-MRAM in 28nm FDSOI Technology. - Y. Ji; H. J. Goo; J. Lim; S. B. Lee; S. Lee; Taiki Uemura; J. C. Park; S. I. Han; S. C. Shin; J. H. Lee; Y. J. Song; K. M. Lee; et al. (IRPS, 2019)