Pattern generation for a deterministic BIST scheme. - Sybille Hellebrand; Birgit Reeb; Steffen Tarnick; Hans-Joachim Wunderlich (ICCAD, 1995)

Deterministic Pattern Generation for Weighted Random Pattern Testing. - Birgit Reeb; Hans-Joachim Wunderlich (ED&TC, 1996)

Generierung von qualitativ hochwertigen Testmustern für den Selbsttest von digitalen Schaltungen. - Birgit Reeb (DDD, 1997)