Power grid redundant path contribution in system on chip (SoC) robustness against electromigration. - Boukary Ouattara; Lise Doyen; David Ney; Habib Mehrez; Pirouz Bazargan-Sabet (Microelectron. Reliab., 2014)

Prévision des effets de vieillissement par électromigration dans les circuits intégrés CMOS en nœuds technologiques submicroniques. (Forecasting the effects of aging by electromigration in the circuits integrated CMOS submicron technology nodes). - Boukary Ouattara (2014)

Fine-grain analysis of the parameters involved in aging of digital circuits. - Boukary Ouattara; Olivier Héron; Chiara Sandionigi (IOLTS, 2016)