Acceleration of RAM-Tests with Associative Pattern Recognition Methods. - Djamshid Tavangarian; Christian Elm (Fault-Tolerant Computing Systems, 1991)

Verhaltenssimulation von Halbleiterspeichern bei parallelen Schreib- und Lesevorgängen. - Roland Friedrich; Christian Elm; Djamshid Tavangarian (ASIM, 1991)

Fault detection and fault localization using IDDQ-testing in parallel testable FAST-SRAMs. - Christian Elm; Djamshid Tavangarian (VTS, 1994)

Einsatz flagorientierter assoziativer Konzepte zur Beschleunigung deterministischer Funktionstests in Schreib-/Lesespeichern. - Christian Elm (1995)