Scan Based Tests via Standard Interfaces. - Christian Gleichner; Heinrich Theodor Vierhaus; Piet Engelke (DSD, 2012)

Test eingebetteter Prozessoren im Zielsystem mit hoher diagnostischer Auflösung. - Christian Gleichner; Heinrich Theodor Vierhaus (GI-Jahrestagung, 2015)

Diagnostischer Test eingebetteter Systeme im Automobil über serielle Standardschnittstellen. - Christian Gleichner (2015)

Test of automotive embedded processors with high diagnostic resolution. - Christian Gleichner; Heinrich Theodor Vierhaus (DDECS, 2016)

Test and Diagnosis of Automotive Embedded Processors via High-Speed Standard Interfaces. - Christian Gleichner; Heinrich Theodor Vierhaus (J. Circuits Syst. Comput., 2017)