Improving ICs reliability with high speed thermal mapping. - Saverio Panarello; Claudia Triolo; F. Garesci; Salvatore Patanè; Giuseppina Billè; D. Patti; L. Burian; D. Gazzo; Sandor Petenyi; Calogero Ribellino (SMACD, 2017)

Improving ICs reliability with high speed thermal mapping. - Saverio Panarello; Claudia Triolo; F. Garesci; Salvatore Patanè; R. Denaro (Integr., 2018)