A new test methodology for an exhaustive study of single-event-effects on power MOSFETs. - Giovanni Busatto; D. Bisello; Giuseppe Currò; Piero Giubilato; Francesco Iannuzzo; S. Mattiazzo; D. Pantano; Annunziata Sanseverino; Luca Silvestrin; M. Tessaro; Francesco Velardi; Jeffery Wyss (Microelectron. Reliab., 2011)