New Test Data Decompressor for Low Power Applications. - Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Dariusz Czysz; Jerzy Tyszer (DAC, 2007)

Low Power Embedded Deterministic Test. - Dariusz Czysz; Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (VTS, 2007)

Low Power Scan Shift and Capture in the EDT Environment. - Dariusz Czysz; Mark Kassab; Xijiang Lin; Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (ITC, 2008)

Low-Power Test Data Application in EDT Environment Through Decompressor Freeze. - Dariusz Czysz; Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 2008)

Compression based on deterministic vector clustering of incompatible test cubes. - Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Dariusz Czysz; Jerzy Tyszer (ITC, 2009)

Highly X-Tolerant Selective Compaction of Test Responses. - Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Dariusz Czysz; Jerzy Tyszer (VTS, 2009)

Low-Power Scan Operation in Test Compression Environment. - Dariusz Czysz; Mark Kassab; Xijiang Lin; Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 2009)

Low power compression of incompatible test cubes. - Dariusz Czysz; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Przemyslaw Szczerbicki; Jerzy Tyszer (ITC, 2010)

On Compaction Utilizing Inter and Intra-Correlation of Unknown States. - Dariusz Czysz; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 2010)

Reduced ATE Interface for High Test Data Compression. - Dariusz Czysz; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (ETS, 2011)

Deterministic Clustering of Incompatible Test Cubes for Higher Power-Aware EDT Compression. - Dariusz Czysz; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Przemyslaw Szczerbicki; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 2011)

Low power test application with selective compaction in VLSI designs. - Dariusz Czysz; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (ITC, 2012)

On Deploying Scan Chains for Data Storage in Test Compression Environment. - Dariusz Czysz; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (IEEE Des. Test, 2013)

Perspectives of Motor Functional Upper Extremity Recovery with the Use of Immersive Virtual Reality in Stroke Patients. - Pawel Sip; Marta Kozlowska; Dariusz Czysz; Przemyslaw Daroszewski; Przemyslaw Lisinski (Sensors, 2023)