Multi-Illumination Nail Analysis With Uncertainty-Aware Deep Learning: A Comprehensive Approach to Automated Fungal Detection. - Zenab Bosheah; Dorottya Keresztes; Péter Lodár; Péter Gaszner; Júlia Szebényi; Eszter Marx; Zoltán Richárd Jánki; Rolland Gyulai; Vilmos Bilicki (IEEE Access, 2026)