An Extended Temperature Range ePCM Memory in 90-nm BCD for Smart Power Applications. - Marcella Carissimi; Chantal Auricchio; Emanuela Calvetti; Laura Capecchi; Mattia Luigi Torres; Stefano Zanchi; P. Gupta; Riccardo Zurla; Alessandro Cabrini; Daniele Gallinari; Fabio Disegni; Massimo Borghi; et al. (ESSCIRC, 2022)

ePCM reliability improvement through active material carbon implantation. - Elisabetta Palumbo; Alessandro Motta; Elisa Petroni; Daniele Gallinari; Annalisa Gilardini; Amos Galbiati; Massimo Borghi; Roberto Annunziata; Andrea Redaelli (ESSDERC, 2023)