Wear out failure mechanisms in aluminium and gold based LDMOS RF power applications. - P. J. van der Wel; S. J. C. H. Theeuwen; J. A. Bielen; Y. Li; R. A. van den Heuvel; J. G. Gommans; F. van Rijs; P. Bron; H. J. F. Peuscher (Microelectron. Reliab., 2006)