Floating-Gate 1Tr-NOR eFlash Memory. - Antonino Conte; Fabio Disegni; Francesco La Rosa; Alfonso Maurelli (Embedded Flash Memory for Embedded Systems, 2018)

2-Mb Embedded Phase Change Memory With 16-ns Read Access Time and 5-Mb/s Write Throughput in 90-nm BCD Technology for Automotive Applications. - Marcella Carissimi; Ritesh Mukherjee; Vivek Tyagi; Fabio Disegni; Davide Manfrè; Cesare Torti; Daniele Gallinari; Sandro Rossi; Andrea Gambero; Donatella Brambilla; Paola Zuliani; Riccardo Zurla; et al. (ESSCIRC, 2019)

Embedded PCM macro for automotive-grade microcontroller in 28nm FD-SOI. - Fabio Disegni; Roberto Annunziata; A. Molgora; G. Campardo; Paolo Cappelletti; P. Zuliani; P. Ferreira; A. Ventre; G. Castagna; Andreia Cathelin; Anna Gandolfo; F. Goller; et al. (VLSI Circuits, 2019)

Improving Ge-rich GST ePCM reliability through BEOL engineering. - Andrea Redaelli; Anna Gandolfo; Giulia Samanni; Enrico Gomiero; Elisa Petroni; Luca Scotti; Andrea Lippiello; Paolo Mattavelli; J. Jasse; D. Codegoni; A. Serafini; Rossella Ranica; et al. (ESSDERC, 2021)

16MB High Density Embedded PCM macrocell for automotive-grade microcontroller in 28nm FD-SOI, featuring extension to 24MB for Over-The-Air software update. - Fabio Disegni; A. Ventre; A. Molgora; Paolo Cappelletti; R. Badalamenti; P. Ferreira; G. Castagna; Andreia Cathelin; Anna Gandolfo; Andrea Redaelli; D. Manfrè; Alfonso Maurelli; et al. (VLSI Circuits, 2021)

An Extended Temperature Range ePCM Memory in 90-nm BCD for Smart Power Applications. - Marcella Carissimi; Chantal Auricchio; Emanuela Calvetti; Laura Capecchi; Mattia Luigi Torres; Stefano Zanchi; P. Gupta; Riccardo Zurla; Alessandro Cabrini; Daniele Gallinari; Fabio Disegni; Massimo Borghi; et al. (ESSCIRC, 2022)

ASIL-D automotive-grade microcontroller in 28nm FD-SOI with full-OTA capable 21MB embedded PCM memory and highly scalable power management. - Nicolas Grossier; Fabio Disegni; A. Ventre; Antonio Barcella; R. Mariani; V. Marino; S. Mazzara; A. Scavuzzo; M. Bansal; B. Soni; A. Anand; S. Banzal; et al. (VLSI Technology and Circuits, 2023)