TCAD predictions of hot-electron injection in p-type LDMOS transistors. - Federico Giuliano; Riccardo Depetro; Giuseppe Croce; Andrea Natale Tallarico; Susanna Reggiani; Antonio Gnudi; Enrico Sangiorgi; Claudio Fiegna; Mattia Rossetti; Antonio Molfese; Stefano Manzini (ESSDERC, 2019)