A Low-Cost Burn-In Tester Architecture to Supply Effective Electrical Stress. - Francesco Angione; Davide Appello; Paolo Bernardi; Claudia Bertani; Giovambattista Gallo; Stefano Littardi; Giorgio Pollaccia; Walter Ruggeri; Matteo Sonza Reorda; Vincenzo Tancorre; Roberto Ugioli (IEEE Trans. Computers, 2023)