Synthesis of pattern generators based on cellular automata with phase shifters. - Grzegorz Mrugalski; Jerzy Tyszer; Janusz Rajski (ITC, 1999)

Comparative Study of CA-based PRPGs and LFSRs with Phase Shifters. - Janusz Rajski; Grzegorz Mrugalski; Jerzy Tyszer (VTS, 1999)

Linear Independence as Evaluation Criterion for Two-Dimensional Test Pattern Generators. - Grzegorz Mrugalski; Jerzy Tyszer; Janusz Rajski (VTS, 2000)

Cellular automata-based test pattern generators with phase shifters. - Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 2000)

Embedded Deterministic Test for Low-Cost Manufacturing Test. - Janusz Rajski; Jerzy Tyszer; Mark Kassab; Nilanjan Mukherjee 001; Rob Thompson; Kun-Han Tsai; Andre Hertwig; Nagesh Tamarapalli; Grzegorz Mrugalski; Geir Eide; Jun Qian (ITC, 2002)

High Speed Ring Generators and Compactors of Test Data. - Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (VTS, 2003)

2D Test Sequence Generators. - Grzegorz Mrugalski; Jerzy Tyszer; Janusz Rajski (IEEE Des. Test Comput., 2003)

Fault Diagnosis in Designs with Convolutional Compactors. - Grzegorz Mrugalski; Chen Wang 014; Artur Pogiel; Jerzy Tyszer; Janusz Rajski (ITC, 2004)

Planar High Performance Ring Generators. - Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (VTS, 2004)

Ring generators - new devices for embedded test applications. - Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 2004)

Convolutional compaction-driven diagnosis of scan failures. - Grzegorz Mrugalski; Artur Pogiel; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer; Chen Wang 014 (ETS, 2005)

Diagnosis with convolutional compactors in presence of unknown states. - Grzegorz Mrugalski; Artur Pogiel; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (ITC, 2005)

Test response compactor with programmable selector. - Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (DAC, 2006)

X-Press Compactor for 1000x Reduction of Test Data. - Janusz Rajski; Jerzy Tyszer; Grzegorz Mrugalski; Wu-Tung Cheng; Nilanjan Mukherjee 001; Mark Kassab (ITC, 2006)

High Performance Dense Ring Generators. - Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Computers, 2006)

New Test Data Decompressor for Low Power Applications. - Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Dariusz Czysz; Jerzy Tyszer (DAC, 2007)

Low Power Embedded Deterministic Test. - Dariusz Czysz; Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (VTS, 2007)

X-Tolerant Compactor with On-Chip Registration and Signature-Based Diagnosis. - Jerzy Tyszer; Janusz Rajski; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Mark Kassab; Wu-Tung Cheng; Manish Sharma; Liyang Lai (IEEE Des. Test Comput., 2007)

Isolation of Failing Scan Cells through Convolutional Test Response Compaction. - Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Chen Wang 014; Artur Pogiel; Jerzy Tyszer (J. Electron. Test., 2007)

Fault Diagnosis With Convolutional Compactors. - Grzegorz Mrugalski; Artur Pogiel; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 2007)

Low Power Scan Shift and Capture in the EDT Environment. - Dariusz Czysz; Mark Kassab; Xijiang Lin; Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (ITC, 2008)

Low-Power Test Data Application in EDT Environment Through Decompressor Freeze. - Dariusz Czysz; Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 2008)

X-Press: Two-Stage X-Tolerant Compactor With Programmable Selector. - Janusz Rajski; Jerzy Tyszer; Grzegorz Mrugalski; Wu-Tung Cheng; Nilanjan Mukherjee 001; Mark Kassab (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 2008)

Compression based on deterministic vector clustering of incompatible test cubes. - Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Dariusz Czysz; Jerzy Tyszer (ITC, 2009)

Highly X-Tolerant Selective Compaction of Test Responses. - Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Dariusz Czysz; Jerzy Tyszer (VTS, 2009)

Low-Power Scan Operation in Test Compression Environment. - Dariusz Czysz; Mark Kassab; Xijiang Lin; Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 2009)

Low power compression of incompatible test cubes. - Dariusz Czysz; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Przemyslaw Szczerbicki; Jerzy Tyszer (ITC, 2010)

Dynamic channel allocation for higher EDT compression in SoC designs. - Mark Kassab; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Jakub Janicki; Jerzy Tyszer (ITC, 2010)

On Compaction Utilizing Inter and Intra-Correlation of Unknown States. - Dariusz Czysz; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 2010)

Low Power Decompressor and PRPG with Constant Value Broadcast. - Michal Filipek; Yoshiaki Fukui; Hiroyuki Iwata; Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Masahiro Takakura; Jerzy Tyszer (Asian Test Symposium, 2011)

Fault Diagnosis in Memory BIST Environment with Non-march Tests. - Grzegorz Mrugalski; Artur Pogiel; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer; Pawel Urbanek (Asian Test Symposium, 2011)

Diagnosis of Failing Scan Cells through Orthogonal Response Compaction. - Brady Benware; Grzegorz Mrugalski; Artur Pogiel; Janusz Rajski; Jedrzej Solecki; Jerzy Tyszer (ETS, 2011)

Reduced ATE Interface for High Test Data Compression. - Dariusz Czysz; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (ETS, 2011)

EDT channel bandwidth management in SoC designs with pattern-independent test access mechanism. - Jakub Janicki; Jerzy Tyszer; Avijit Dutta; Mark Kassab; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski (ITC, 2011)

Ring Generator: An Ultimate Linear Feedback Shift Register. - Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Grzegorz Mrugalski; Artur Pogiel; Jerzy Tyszer (Computer, 2011)

Fault Diagnosis with Orthogonal Compactors in Scan-Based Designs. - Brady Benware; Grzegorz Mrugalski; Artur Pogiel; Janusz Rajski; Jedrzej Solecki; Jerzy Tyszer (J. Electron. Test., 2011)

Deterministic Clustering of Incompatible Test Cubes for Higher Power-Aware EDT Compression. - Dariusz Czysz; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Przemyslaw Szczerbicki; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 2011)

Bandwidth-aware test compression logic for SoC designs. - Jakub Janicki; Jerzy Tyszer; Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski (ETS, 2012)

Low power programmable PRPG with enhanced fault coverage gradient. - Jedrzej Solecki; Jerzy Tyszer; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski (ITC, 2012)

Test generator with preselected toggling for low power built-in self-test. - Janusz Rajski; Jerzy Tyszer; Grzegorz Mrugalski; Benoit Nadeau-Dostie (VTS, 2012)

EDT Bandwidth Management in SoC Designs. - Jakub Janicki; Mark Kassab; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 2012)

New test compression scheme based on low power BIST. - Jerzy Tyszer; Michal Filipek; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski (ETS, 2013)

On Deploying Scan Chains for Data Storage in Test Compression Environment. - Dariusz Czysz; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (IEEE Des. Test, 2013)

Test Time Reduction in EDT Bandwidth Management for SoC Designs. - Jakub Janicki; Mark Kassab; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 2013)

Low Power Test Compression with Programmable Broadcast-Based Control. - Sylwester Milewski; Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (ATS, 2014)

High-Speed Serial Embedded Deterministic Test for System-on-Chip Designs. - Maciej Trawka; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Artur Pogiel; Janusz Rajski; Jakub Janicki; Jerzy Tyszer (ATS, 2014)

On Using Implied Values in EDT-based Test Compression. - Marcin Gebala; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (DAC, 2014)

Erratum to "Test Time Reduction in EDT Bandwidth Management for SoC Designs". - Jakub Janicki; Mark Kassab; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 2014)

TestExpress - New Time-Effective Scan-Based Deterministic Test Paradigm. - Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Jedrzej Solecki; Jerzy Tyszer; Chen Wang 014 (ATS, 2015)

A deterministic BIST scheme based on EDT-compressed test patterns. - Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Lukasz Rybak 001; Jedrzej Solecki; Jerzy Tyszer (ITC, 2015)

Scan Test Bandwidth Management for Ultralarge-Scale System-on-Chip Architectures. - Wu-Tung Cheng; Yan Dong; Grady Giles; Yu Huang 005; Jakub Janicki; Mark Kassab; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 2015)

Low-Power Programmable PRPG With Test Compression Capabilities. - Michal Filipek; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Benoit Nadeau-Dostie; Janusz Rajski; Jedrzej Solecki; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 2015)

Star-EDT: Deterministic On-Chip Scheme Using Compressed Test Patterns. - Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Lukasz Rybak 001; Jedrzej Solecki; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 2017)

Trimodal Scan-Based Test Paradigm. - Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Jedrzej Solecki; Jerzy Tyszer; Chen Wang 014 (IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 2017)

On Cyclic Scan Integrity Tests for EDT-based Compression. - Wu-Tung Cheng; Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Maciej Trawka; Jerzy Tyszer (VTS, 2019)

Scan Chain Diagnosis-Driven Test Response Compactor. - Jakub Janicki; Grzegorz Mrugalski; Artur Stelmach; Szczepan Urban (ATS, 2020)

Test Sequence-Optimized BIST for Automotive Applications. - Bartosz Kaczmarek; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Lukasz Rybak 001; Jerzy Tyszer (ETS, 2020)

X-Tolerant Tunable Compactor for In-System Test. - Yingdi Liu; Sylwester Milewski; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer; Bartosz Wldarczak (ITC, 2020)

Scan Integrity Tests for EDT Compression. - Wu-Tung Cheng; Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Maciej Trawka; Jerzy Tyszer (IEEE Des. Test, 2020)

Autonomous Scan Patterns for Laser Voltage Imaging. - Wu-Tung Cheng; Sylwester Milewski; Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Maciej Trawka; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Emerg. Top. Comput., 2021)

X-Tolerant Compactor maXpress for In-System Test Applications With Observation Scan. - Yingdi Liu; Sylwester Milewski; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer; Bartosz Wlodarczak (IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst., 2021)

X-Masking for In-System Deterministic Test. - Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer; Bartosz Wlodarczak (ETS, 2022)

DIST: Deterministic In-System Test with X-masking. - Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer; Bartosz Wlodarczak (ITC, 2022)

LBIST for Automotive ICs With Enhanced Test Generation. - Bartosz Kaczmarek; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Artur Pogiel; Janusz Rajski; Lukasz Rybak 001; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 2022)

X-Masking for Deterministic In-System Tests. - Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Jerzy Tyszer; Bartosz Wlodarczak (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 2023)

Identification of Failing Flip-Flops with Triangular Test Response Compaction. - Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Maciej Trawka; Jerzy Tyszer (ETS, 2025)