Möglichkeiten der Modellierung von Fehlern in MLC-Flash-Speichern durch Fehlergraphen. - Günther Nieß; Thomas Kern; Michael Gössel (GI-Jahrestagung, 2015)

Modellierung und Erkennung von technischen Fehlern mittels linearer und nichtlinearer Codes. - Günther Nieß (2016)