Hot-Electron Effects in GaN GITs and HD-GITs: A Comprehensive Analysis. - Eric E. Fabris; Matteo Meneghini; Carlo De Santi; Matteo Borga; Gaudenzio Meneghesso; Enrico Zanoni; Y. Kinoshita; Kenichiro Tanaka; H. Ishida; Tetsuzo Ueda (IRPS, 2019)