Analysis of Breakdown Phenomena in MOSFET's. - A. Schütz; Siegfried Selberherr; Hans W. Pötzl (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 1982)

Numerische Simulation von Halbleiterbauelementen. - Siegfried Selberherr; Hans W. Pötzl (Simulationstechnik, 1984)

Simulation of Critical IC-Fabrication Steps. - Peter Pichler; Werner Jüngling; Siegfried Selberherr; Edgar Guerrero; Hans W. Pötzl (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 1985)