TCAD Simulation on FinFET n-type Power Device HCI Reliability Improvement. - Benyuan Zhu; E. M. Bazizi; J. H. M. Tng; Z. Li; E. K. Banghart; M. K. Hassan; Y. Hu; D. Zhou; D. Choi; L. Qin; Xuan Wan (IRPS, 2019)