On the influence of the variation of measurement conditions on the FNT characteristics of stressed thin silicon oxides. - Jan-Werner Zahlmann-Nowitzki; Lars Nebrich; Peter Seegebrecht (Microelectron. Reliab., 2001)

Ein Beitrag zur Zuverlässigkeit von EEPROM-Zellen für den erweiterten Betriebstemperaturbereich. - Jan-Werner Zahlmann-Nowitzki (Mainz, 2001)