Dedicated MEMS-based test structure for 3D SiP interconnects reliability investigation. - Tomasz Bieniek; Grzegorz Janczyk; Rafal Dobrowolski; Dariusz Szmigiel; Magdalena Ekwinska; Piotr Grabiec; Pawel Janus; Jerzy Zajac (3DIC, 2013)

New approach for a multi-cantilever arrays sensor system with advanced MOEMS readout. - Francesco Ivaldi; Tomasz Bieniek; Pawel Janus; Jerzy Zajac; Piotr Grabiec; Wojciech Majstrzyk; D. Kopiec; Teodor P. Gotszalk (ESSDERC, 2016)