Surface Charge Migration in SiC Power MOSFETs Induced by HVDC-H3TRB Testing. - B. D. Rummel; C. E. Glaser; R. T. Gurule; M. Groves; A. T. Binder; R. Floyd; L. Yates; K. J. Reilly; R. J. Kaplar (IRPS, 2024)