A deterministic BIST scheme based on EDT-compressed test patterns. - Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Lukasz Rybak 001; Jedrzej Solecki; Jerzy Tyszer (ITC, 2015)

Star-EDT: Deterministic On-Chip Scheme Using Compressed Test Patterns. - Grzegorz Mrugalski; Janusz Rajski; Lukasz Rybak 001; Jedrzej Solecki; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 2017)

Test Sequence-Optimized BIST for Automotive Applications. - Bartosz Kaczmarek; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Janusz Rajski; Lukasz Rybak 001; Jerzy Tyszer (ETS, 2020)

LBIST for Automotive ICs With Enhanced Test Generation. - Bartosz Kaczmarek; Grzegorz Mrugalski; Nilanjan Mukherjee 001; Artur Pogiel; Janusz Rajski; Lukasz Rybak 001; Jerzy Tyszer (IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst., 2022)