Degradation properties of MOVPE-grown GaInP/GaAs HBTs under combined temperature and current stressing. - Joachim Würfl; Paul Kurpas; Frank Brunner; Michael Mai; Matthias Rudolph; Markus Weyers (Microelectron. Reliab., 2001)

Multiharmonic generators for relative phase calibration of nonlinear network analyzers. - Peter Heymann; Ralf Doerner 002; Matthias Rudolph (IEEE Trans. Instrum. Meas., 2001)

Zugangserschwerungsgesetz: Schnellschuss mit Risiken und Nebenwirkungen. - Dieter Frey; Matthias Rudolph (Computer und Recht, 2009)

E-Mails als Marketinginstrument im Rahmen neuer Geschäftskontakte. - Matthias Rudolph (Computer und Recht, 2010)

Highly linear X-band GaN-based low-noise amplifier. - Cristina Andrei; Ralf Doerner 002; Olof Bengtsson; Serguei A. Chevtchenko; Wolfgang Heinrich; Matthias Rudolph (ISSSE, 2012)

High-density capacitors for SiP and SoC applications based on three-dimensional integrated metal-isolator-metal structures. - Wenke Weinreich; Matthias Rudolph; Johannes Koch; Jan Paul; Konrad Seidel; Stefan Riedel; Jonas Sundqvist; Katja Steidel; Manuela Gutsch; Volkhard Beyer; Christoph Hohle (ICICDT, 2013)

Die Host-Providerhaftung im Lichte des Unionsrechts. - Dieter Frey; Matthias Rudolph; Jan Oster (Comput. und Recht, 2015)

Gate Stack Optimization Toward Disturb-Free Operation of Ferroelectric HSO based FeFET for NAND Applications. - Konrad Seidel; Kati Biedermann; Jan Van Houdt; Tarek Ali; Raik Hoffmann; Kati Kühnel; Malte Czernohorsky; Matthias Rudolph; Björn Pätzold; Philipp Steinke; K. Zimmermann (NVMTS, 2019)

Impact of Ferroelectric Wakeup on Reliability of Laminate based Si-doped Hafnium Oxide (HSO) FeFET Memory Cells. - Tarek Ali; Kati Kühnel; Malte Czernohorsky; Matthias Rudolph; Björn Pätzold; Ricardo Olivo; David Lehninger; Konstantin Mertens; Franz Müller 001; Maximilian Lederer; Raik Hoffmann; Clemens Mart; et al. (IRPS, 2020)

Die Regulierung digitaler Geschäftsmodelle im neuen Medienstaatsvertrag: Ein Überblick. - Dieter Frey; Matthias Rudolph; Veronika Frey; Olaf Radtke (Comput. und Recht, 2021)

Impact of Temperature on Reliability of MFIS HZO-based Ferroelectric Tunnel Junctions. - Ayse Sünbül; Tarek Ali; Raik Hoffmann; Ricardo Revello; Yannick Raffel; Pardeep Duhan; David Lehninger; Kati Kühnel; Matthias Rudolph; Sebastian Oehler; Philipp Schramm; Malte Czernohorsky; et al. (IRPS, 2022)