Fast THz-TDS Reflection Imaging with ECOPS - Point-by-Point versus Line-by-Line Scanning. - Norbert Palka; Marcin Maciejewski; Kamil A. Kaminski; Marek Piszczek; Przemyslaw Zagrajek; Elzbieta Czerwinska; Michal Walczakowski; Krzysztof Dragan; Piotr Synaszko; Waldemar Swiderski (Sensors, 2022)