A Parametric Design of a Built-in Self-Test FIFO Embedded Memory. - Stefano Barbagallo; Monica Lobetti Bodoni; Davide Medina; Gabriel de Blasio; M. Ferloni; Franco Fummi; Donatella Sciuto (DFT, 1996)

Scan insertion criteria for low design impact. - Stefano Barbagallo; Monica Lobetti Bodoni; Davide Medina; Fulvio Corno; Paolo Prinetto; Matteo Sonza Reorda (VTS, 1996)

An on-line BISTed SRAM IP core. - Monica Lobetti Bodoni; Alessio Pricco; Alfredo Benso; Silvia Chiusano; Paolo Prinetto (ITC, 1999)

Testing embedded memories in telecommunication systems. - Stefano Barbagallo; Monica Lobetti Bodoni; Alfredo Benso; Silvia Chiusano; Paolo Prinetto (IEEE Commun. Mag., 1999)

An effective distributed BIST architecture for RAMs. - Monica Lobetti Bodoni; Alfredo Benso; Silvia Chiusano; Stefano Di Carlo; Giorgio Di Natale; Paolo Prinetto (ETW, 2000)

On Integrating a Proprietary and a Commercial Architecture for Optimal BIST Performances in SoCs. - Alfredo Benso; Stefano Di Carlo; Silvia Chiusano; Paolo Prinetto; Fabio Ricciato; Monica Lobetti Bodoni; Maurizio Spadari (ICCD, 2000)

A Family of Self-Repair SRAM Cores. - Alfredo Benso; Silvia Chiusano; Giorgio Di Natale; Paolo Prinetto; Monica Lobetti Bodoni (IOLTW, 2000)

A programmable BIST architecture for clusters of multiple-port SRAMs. - Alfredo Benso; Stefano Di Carlo; Giorgio Di Natale; Paolo Prinetto; Monica Lobetti Bodoni (ITC, 2000)

Online and Offline BIST in IP-Core Design. - Alfredo Benso; Silvia Chiusano; Giorgio Di Natale; Paolo Prinetto; Monica Lobetti Bodoni (IEEE Des. Test Comput., 2001)

Panel: "Board Test and ITC: What Does the Future Hold?". - Monica Lobetti Bodoni (ITC, 2002)

Programmable built-in self-testing of embedded RAM clusters in system-on-chip architectures. - Alfredo Benso; Stefano Di Carlo; Giorgio Di Natale; Paolo Prinetto; Monica Lobetti Bodoni (IEEE Commun. Mag., 2003)

Guest Editors' Introduction: Board Test. - Monica Lobetti Bodoni; Ben Bennetts (IEEE Des. Test Comput., 2003)