Fault isolation in a case study of failure analysis on Metal-Insulator-Metal capacitor structures. - V. Giuffrida; P. Barbarino; Giuseppe Muni; Giancarlo Calvagno; G. Latteo; Domenico Mello (Microelectron. Reliab., 2015)

Advanced Characterization of p/n Junctions in SiC. - G. Johnson; A Rummel; H. Stegmann; P. Barbarino; C. Poltronieri; G. Sciuto; M. Astuto; Giancarlo Calvagno; R. Ricciari (IRPS, 2025)