A new test methodology for an exhaustive study of single-event-effects on power MOSFETs. - Giovanni Busatto; D. Bisello; Giuseppe Currò; Piero Giubilato; Francesco Iannuzzo; S. Mattiazzo; D. Pantano; Annunziata Sanseverino; Luca Silvestrin; M. Tessaro; Francesco Velardi; Jeffery Wyss (Microelectron. Reliab., 2011)

CHIPIX65: Developments on a new generation pixel readout ASIC in CMOS 65 nm for HEP experiments. - N. Demaria; G. Dellacasa; G. Mazza; Angelo Rivetti; Manuel D. Da Rocha Rolo; E. Monteil; L. Pacher; Fabio Ciciriello; Francesco Corsi; Cristoforo Marzocca; G. De Roberts; F. Loddo; et al. (IWASI, 2015)

Depleted MAPS on a 110 nm CMOS CIS Technology. - Raffaele Aaron Giampaolo; Andrea Di Salvo; Lucio Pancheri; Tommaso Croci; Jonhatan Olave; Angelo Rivetti; Manuel Da Rocha Rolo; Serena Mattiazzo; Piero Giubilato (ICECS, 2019)

Remote Configuration of the ProASIC3 on the ALICE Inner Tracking System Readout Unit. - Shiming Yuan; Johan Alme; Dieter Röhrich; Matthias Richter; Magnus Rentsch Ersdal; Piero Giubilato; Gianluca Aglieri Rinella; Arild Velure; Matteo Lupi; Johann Joachim Schambach (CoRR, 2020)