BTI reliability of ultra-thin EOT MOSFETs for sub-threshold logic. - Jacopo Franco; S. Graziano; Ben Kaczer; Felice Crupi; Lars-Åke Ragnarsson; Tibor Grasser; Guido Groeseneken (Microelectron. Reliab., 2012)

Mid-infrared free-space optical link at 10.6 μm. - S. Graziano; D. Gatti; Laura Resteghini; A. Milani; Roberto Nebuloni; Lorenzo Luini; Gianluca Galzerano (ICTON, 2024)