Reliability of 8Mbit Embedded-STT-MRAM in 28nm FDSOI Technology. - Y. Ji; H. J. Goo; J. Lim; S. B. Lee; S. Lee; Taiki Uemura; J. C. Park; S. I. Han; S. C. Shin; J. H. Lee; Y. J. Song; K. M. Lee; et al. (IRPS, 2019)

Highly Reliable and Manufacturable MRAM embedded in 14nm FinFET node. - S. Ko; J. H. Park; J. H. Bak; H. Jung; J. Shim; D. S. Kim; W. Lim; D.-E. Jeong; J. H. Lee; K. Lee; J.-H. Park; Y. Kim; et al. (VLSI Technology and Circuits, 2023)