High voltage transistor degradation in NVM pump application. - Roberta Bottini; Sonia Costantini; Nadia Galbiati; Andrea Ghetti; Gabriella Ghidini; Aurelio Giancarlo Mauri; Claudia Scozzari; Alessandro Sebastiani (Microelectron. Reliab., 2007)

Long-term stresses on linear micromirrors for pico projector application. - M. Silvestrini; Marco Barbato; Sonia Costantini; L. Castoldi; Federico Vercesi; Luigi Zanotti; Gaudenzio Meneghesso (Microelectron. Reliab., 2017)

High Temperature Operating Lifetime Test on piezo-MEMS devices. - Maria Fortuna Bevilacqua; Valeria Casuscelli; Sonia Costantini; Paolo Ferrari; Immacolata Pedaci (RTSI, 2021)