Modeling BTI Reliability in CMOS DRAM Periphery Device: A Review of BTI Analysis Tool (BAT). - A. Subirats; M. Samiee; G. Ferrari; U. Sharma; T. Imamoto; M. Yokomichi; S. Srivastava; K. Florent; T. Owens; A. S. Bisht; S. Mahapatra (IRPS, 2025)