Thermal analysis of InGaN/GaN (GaN substrate) laser diodes using transient interferometric mapping. - Sergey Bychikhin; T. Swietlik; Tadeusz Suski; Sylwester Porowski; Piotr Perlin; Dionyz Pogany (Microelectron. Reliab., 2007)

Degradation Mechanisms of InGaN Laser Diodes. - Piotr Perlin; Lucja Marona; Michal Leszczynski; Tadeusz Suski; Przemyslaw Wisniewski; Robert Czernecki; Izabella Grzegory (Proc. IEEE, 2010)