Accelerated test pattern generation by cone-oriented circuit partitioning. - Torsten Grüning; Udo Mahlstedt; Wilfried Daehn; Cengiz Özcan (EURO-DAC, 1990)

Contest: A Fast ATPG Tool for Very Large Combinatorial Circuits. - Udo Mahlstedt; Torsten Grüning; Cengiz Özcan; Wilfried Daehn (ICCAD, 1990)

DIATEST: A Fast Diagnostic Test Pattern Generator for Combinational Circuits. - Torsten Grüning; Udo Mahlstedt; Hartmut Koopmeiners (ICCAD, 1991)

Stimuligenerierung für die Fehlerdiagnose digitaler Schaltungen mit Scan-Pfad unter Einbeziehung des Elektronenstrahltests. - Torsten Grüning (1993)