J. Molina

According to our database, J. Molina authored at least 2 papers between 2020 and 2021.

Collaborative distances:

• Dijkstra number of five.
• Erdős number of five.

2021

Cosmic Ray Background Removal With Deep Neural Networks in SBND.

R. Acciarri, Corey Adams, C. Andreopoulos, J. Asaadi, M. Babicz, C. Backhouse, W. Badgett, L. Bagby, D. Barker, V. Basque, M. C. Q. Bazetto, M. Betancourt, A. Bhanderi, A. Bhat, C. Bonifazi, D. Brailsford, A. G. Brandt, T. Brooks, M. F. Carneiro, Y. Chen, H. Chen, G. Chisnall, J. I. Crespo-Anadón, E. Cristaldo, C. Cuesta, I. L. de Icaza Astiz, A. De Roeck, G. de Sá Pereira, M. Del Tutto, Vito Di Benedetto, A. Ereditato, J. J. Evans, A. C. Ezeribe, R. S. Fitzpatrick, B. T. Fleming, W. Foreman, D. Franco, I. Furic, A. P. Furmanski, S. Gao, D. Garcia-Gamez, H. Frandini, G. Ge, I. Gil-Botella, S. Gollapinni, O. Goodwin, P. Green, W. C. Griffith, R. Guenette, P. Guzowski, T. Ham, J. Henzerling, A. Holin, B. Howard, R. S. Jones, D. Kalra, G. Karagiorgi, L. Kashur, W. Ketchum, M. J. Kim, V. A. Kudryavtsev, J. Larkin, H. Lay, I. Lepetic, B. R. Littlejohn, W. C. Louis, A. A. Machado, M. Malek, D. Mardsen, Camillo Mariani, F. Marinho, A. Mastbaum, K. Mavrokoridis, N. McConkey, V. Meddage, D. P. Méndez, Thomas Mettler, K. Mistry, A. Mogan, J. Molina, M. Mooney, L. Mora, C. A. Moura, Joel Mousseau, A. Navrer-Agasson, F. J. Nicolas-Arnaldos, Jaroslaw A. Nowak, O. Palamara, V. Pandey, J. Pater, L. Paulucci, V. L. Pimentel, F. Psihas, G. Putnam, X. Qian, E. Raguzin, H. Ray, M. Reggiani-Guzzo, D. Rivera, M. Roda, M. Ross-Lonergan, G. Scanavini, A. Scarff, D. W. Schmitz, A. Schukraft, E. Segreto, M. Soares Nunes, M. Soderberg, S. Söldner-Rembold, J. Spitz, N. J. C. Spooner, M. Stancari, G. V. Stenico, A. Szelc, W. Tang, J. Tena Vidal, D. Torretta, M. Toups, C. Touramanis, M. Tripathi, S. Tufanli, E. Tyley, G. A. Valdiviesso, E. Worcester, M. Worcester, G. Yarbrough, J. Yu, Bruno Zamorano, J. Zennamo, A. Zglam

Frontiers Artif. Intell., 2021

2020

Correlation of Dielectric Breakdown and Nanoscale Adhesion in Silicon Dioxide Thin Films.

Alok Ranjan, Sean J. O'Shea, Michel Bosman, J. Molina, Nagarajan Raghavan, Kin Leong Pey

Proceedings of the 2020 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2020