R. Henning

According to our database, R. Henning authored at least 3 papers between 1990 and 2023.

Collaborative distances:

• Dijkstra number of four.
• Erdős number of four.

2023

Majorana Demonstrator Data Release for AI/ML Applications.

I. J. Arnquist, F. T. Avignone III, Alexander Stepanovich Barabash, C. J. Barton, K. H. Bhimani, E. Blalock, B. Bos, M. Busch, M. Buuck, Thomas S. Caldwell, Y.-D. Chan, C. D. Christofferson, P.-H. Chu, M. L. Clark, C. Cuesta, J. A. Detwiler, Yu. Efremenko, H. Ejiri, S. R. Elliott, N. Fuad, G. K. Giovanetti, M. P. Green, J. Gruszko, I. S. Guinn, V. E. Guiseppe, C. R. Haufe, R. Henning, D. Hervas Aguilar, E. W. Hoppe, A. Hostiuc, M. F. Kidd, I. Kim, Richard T. Kouzes, T. E. Lannen V, A. Li, J. M. Lopez-Castano, R. D. Martin, R. Massarczyk, S. J. Meijer, S. Mertens, T. K. Oli, Laxman Sharma Paudel, Walter Pettus, A. W. P. Poon, B. Quenallata, D. C. Radford, A. L. Reine, K. Rielage, N. W. Ruof, D. C. Schaper, S. J. Schleich, D. Tedeschi, R. L. Varner, S. Vasilyev, S. L. Watkins, J. F. Wilkerson, Clint Wiseman, W. Xu, C.-H. Yu, B. X. Zhu

CoRR, 2023

2022

Learning Physics from the Machine: An Interpretable Boosted Decision Tree Analysis for the Majorana Demonstrator.

I. J. Arnquist, F. T. Avignone III, Alexander Stepanovich Barabash, C. J. Barton, K. H. Bhimani, E. Blalock, B. Bos, M. Busch, M. Buuck, Thomas S. Caldwell, Y.-D. Chan, C. D. Christofferson, P.-H. Chu, M. L. Clark, C. Cuesta, J. A. Detwiler, Yu. Efremenko, S. R. Elliott, G. K. Giovanetti, M. P. Green, J. Gruszko, I. S. Guinn, V. E. Guiseppe, C. R. Haufe, R. Henning, D. Hervas Aguilar, E. W. Hoppe, A. Hostiuc, M. F. Kidd, I. Kim, Richard T. Kouzes, T. E. Lannen V, A. Li, J. M. Lopez-Castano, E. L. Martin, R. D. Martin, R. Massarczyk, S. J. Meijer, T. K. Oli, G. Othman, Laxman Sharma Paudel, Walter Pettus, A. W. P. Poon, D. C. Radford, A. L. Reine, K. Rielage, N. W. Ruof, D. C. Schaper, D. Tedeschi, R. L. Varner, S. Vasilyev, J. F. Wilkerson, Clint Wiseman, W. Xu, C.-H. Yu

CoRR, 2022

1990

Global cost functions for test generation.

Miron Abramovici, David T. Miller, R. Henning

Proceedings of the Proceedings IEEE International Test Conference 1990, 1990